ES640充电器件模型（CDM）测试系统，充电器件模型（CDM）静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的C​​DM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时，通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。

CDM 器件充放电测试系统为ESD事件中的器件充放电测试模型， 模拟带电荷的器件在接触地低电荷时瞬间放电形成电流，对器件造成损伤和击坏的过程

ES640 Charged Device Model (CDM) Test System$nCharged Device Model (CDM) electrostatic discharge is a common cause of microelectronic circuit failure.