ES62X-LVS低压浪涌系统，能够输出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形，用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能，便于确定被测器件的ESD损伤阈值。

ES62X-LVS Low Voltage Surge System is designed for testing the surge immunity of devices at both wafer and package levels.

ES62X-LVS 型低压浪涌测试系统能够输出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形，用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能，便于确定被测器件的ESD损伤阈值。