ES622系列TLP脉冲IV曲线系统是一种IV曲线表征系统，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1标准，旨在高功率时域中模拟ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脉冲）及监控设备（半导体、分立器件、电路模块等）。应用于ESD性能表征/晶圆/封装级ESD测试系统/电路模块ESD测试/安全操作区（SOA）测试/触摸屏ITO微带线熔断和击穿测试等。

TLP传输线脉冲测试系统是一款便携式脉冲IV-曲线特性表征系统，用于模拟静电放电脉冲事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形，并测试脉冲前、后被测器件的状态（漏电流，击穿电压，偏置电流，静态IV曲线等），可测的DUT包括静电防护器件，半导体，电路模块，触摸板传感器等。

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization system designed to simulate ESD events (TLP/ VF-TLP/ HMM/ HBM/MM pulse) and monitor a device