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ES62X-LVS低压浪涌系统

ES62X-LVS低压浪涌系统,能够输出符合IEC 61000-4-5,GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形,用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能,便于确定被测器件的ESD损伤阈值。

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-08-13
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详细介绍

ES62X-LVS低压浪涌系统

1.描述

ES62X-LVS 型低压浪涌系统能够输出符合IEC 61000-4-5,GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形,用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能,便于确定被测器件的ESD损伤阈值。

脉冲发生器的设计和脉冲输出方法保证了被测器件端(而非发生器输出端)的波形性能。系统能够获取浪涌脉冲注入时的瞬态电流和电压波形,用于分析包括ESD保护器件开启电压等级在内的被测器件ESD特性。通过对比脉冲注入时的电压波形变化,还能够判定故障等级。

2.特点

  • 1V至500V电压范围内波形干净,线性度高

  • 全隔离的放电电路

  • 软件控制,自动化测量

  • 损伤阈值自动监测(含DC漏电测量及静态IV扫描)

3.应用

  • 基于IEC61000-4-5 8 /20μs标准,进行电源、驱动PCB、通信系统、LCD显示屏等模块的浪涌抗扰度测试

  • 进行晶圆、封装和PCB级的浪涌脉冲敏感度测试

  • 10 /1000μs波形的晶圆、封装、PCB和系统级浪涌敏感度和抗扰度测试

4.规格

参数LVS-500-8/20 选项LVS-500-10/1000 选项单位
输出电压(开路负载)1 – 5001 – 500V
输出电流(短路负载)0.5 – 2500.12 – 55A
输出精度± 5 %± 5 %%
输出电阻2 ± 10%9 ± 10%
短路电流波前时间8 ± 20 %10 – 40 %µs
短路电流半峰值时间20 ± 20 %1000 +20 %µs
开路电压波前时间1.2 ± 30 %10 – 40 %µs
开路电压半峰值时间50 ± 20 %1000 +50 %µs
尺寸347 X 300 X 145mm
重量12kg
电压探头无源电压探头, 101:1
电流探头无源电流探头,  0.1 V/A

5.订购信息

编号型号描述
低压浪涌IV曲线系统
1.0ES62X-LVSES62X-LVS 低压浪涌系统主机
1.1LVS-500-8/208/20 低压浪涌模块, 最大电压500V
1.2LVS-500-10/100010/1000 低压浪涌模块, 最大电压 500V
其他选项
2.1KSMU2400SMU, 200V, 1A, 20W, 单通道 (被测器件DC自动失效检测))
2.2ES62X-CMPS简易手动探针台
2.3ES62X-XYZM-TIMXYZ 微动探针座, XYZ 行程500 mils,步进0.01mm
2.4ES62X-XYZM-PAAPCB 电压测量探针臂组件
2.5ES62X-XYZM-GAA接地探针臂组件
2.6ES62X-XYZM-PP048048 弹簧探针
2.7ES62X-XYZM-PP075075 弹簧探针
2.8ES62X-XYZM-TN1

钨钢针 – 针尖尺寸5 mils


ES62X-LVS低压浪涌系统


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