EMI近场测试如何选择合适的近场探头

更新时间：2022-10-11

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　　EMI近场测试是电磁兼容性(EMC)辐射发射预兼容测试中的一个重要组成。EMI机构使用EMI接收机和经过准确校准的天线来测试3或10米距离上的被测设备(DUT)，这称为远场测量。

　　电磁场的特性主要由被测设备(DUT)以及它与接收机和天线的距离决定。远场辐射发射测量可以准确地告诉我们被测器件是否符合相应的EMC/EMI标准。

　　但是，远场测试也有一些局限性。它无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于USB、LAN之类的通信接口，还是来自壳体的缝隙，或来自连接的电缆乃至电源线。在这种情况下，我们只能使用频谱分析仪和近场探头，通过近场测试来定位这些发射源。

　　EMI近场测试是一种相对量测试，这意味着它需要把被测器件的测试结果与基准器件的测试结果进行比较，以预测被测器件通过一致性测试的可能性。

　　需要注意的是，直接比较近场测试结果与EMI标准测试极限是没有意义的，因为测试读数受许多因素的影响，包括探头位置和被测器件的形状等。

　　近场探头的类型：

　　电磁场是由电场和磁场构成。在近场，电场和磁场共同存在，其强度不构成固定关系，所以EMI近场测试使用的近场探头分为电场探头和磁场探头两种。

　　选择近场探头往往要考虑几个重要因素，包括分辨率、灵敏度和频率范围等。

　　近场探头的灵敏度不是一个指标，关键是看探头和配合使用的频谱分析仪或者接收机能不能容易的测量到辐射泄漏信号，并且有足够的裕量去观察改进后的变化。

　　如果频谱仪的灵敏度很高，我们可以选择灵敏度相对较低一些的探头。反之就必须选择灵敏度高的探头，甚至考虑外接前置放大器提高整体系统的灵敏度。

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