半导体参数测试系统的应用及对应优势

更新时间：2024-07-10

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半导体参数测试系统是一款配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。

产品应用：

新型材料与器件测试

半导体器件可靠性测试

半导体器件超短脉冲测试

半导体器件无损探伤与测试

光电器件和微电子机械系统测试

半导体器件超低频噪声领域测试

产品优势：

一体化设备：

单机可采集高精度IV、CV、脉冲IV和瞬态IV采样及1/f噪声测试所有参数。

无需切换电缆或探头连接即可提供完整的低频参数提取功能。

宽电压电流输出范围、高精度：

支持高速采样时域信号采集和任意线性波形生成模块化架构。

支持灵活、可扩展的测试配置。

简单易用：

内置专业LabExpress软件，用户界面友好。

测量、分析功能强大。

无需复杂编程步骤即可同步产生电压并跟踪波形。

可用作9812DX内部SMU模块：

无缝集成9812D/DX系统及其NoiseProPlus软件，可提高噪声测试速度。

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