了解EMI近场测试，从这里开始！

更新时间：2023-03-16

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　　EMI近场测试是一种测试电子设备的电磁兼容性（EMC）的方法，它通过在设备周围设置接近于设备工作状态的电磁场来模拟设备运行时的情况，然后通过测试设备的敏感性来评估设备的EMC。

　　这种测试通常用于评估设备的EMC设计，确定设备的故障和干扰源并指导设备的调整和维护。在EMI近场测试中，测试设备通常需要放置在一种类似于电磁屏蔽室的环境中，以确保测试环境的准确性和可重复性。此外，测试仪器需要具备高度的灵敏度和准确性，以确保准确捕捉和测量局部电磁干扰信号。

　　EMI近场测试是可用于EMI排查的一种测量，因为它不要求测试站点提供专门的条件就能查出能量源。然而，一致性测试是在远场中进行的，而不是近场。人们通常不会使用远场，因为有太多的变量让它变得复杂起来：远场信号的强度不仅取决于源的强度，而且取决于辐射机制以及可能采取的屏蔽或滤波措施。

　　根据经验需要记住，如果能观察远场中的信号，那么应该能看到近场中的相同信号。（然而，能观察到近场中的信号而看不到远场中的相同信号是很可能的）

　　近场探针实际上就是设计用于拾取磁场（H场）或电场（E场）变化的天线。一般来说，近场探针没有校准数据，因此它们适合用于相对测量。如果对用于测量H场和E场变化的探针不熟悉，那么了解一些近场探针设计和使用方法：

　　H场（磁场）探针具有独特的环路设计，重要的是，H场探针的方向是有利于环路平面与待测导体保持一致的，这样布置的环路可以使磁通量线直接穿过环路。

　　环路大小决定了灵敏度以及测量面积，因此在使用这类探针隔离能量源时必须十分小心。近场探针套件通常包含许多不同的环路大小，以便使用逐渐减小的环路尺寸来缩小测量面积。

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