ESD敏感器件(如集成电路、传感器芯片)对静电极为敏感，哪怕微弱的静电放电都可能造成内部电路损坏，引发设备故障。抗静电能力测试系统通过科学模拟静电场景，成为验证这类器件防护性能的核心工具，为电子产业链的质量安全保驾护航。​在测试方式上，系统需兼顾接触放电与空气放电两种核心场景。接触放电模拟人体直接触碰器件时的静电释放，测试电压需精准覆盖±2kV至±30kV，能清晰记录器件在不同电压下的耐压极限，比如某类芯片在15kV接触放电后是否出现逻辑功能紊乱。...

2025-06-26

在现代科技高度发达的时代，静电问题对电子设备的破坏性日益凸显。因此，抗静电能力测试系统成为了确保电子产品安全可靠运行的关键环节。抗静电能力测试系统的核心原理是通过模拟实际静电放电情况，评估电子产品的抗静电能力。这一过程主要依赖于静电放电模拟器（ESDSimulator）来实现。1、静电放电模拟：静电放电模拟器采用电容放电的原理，在被测产品与模拟器之间建立电容。通过模拟人体接触到产品时可能产生的静电放电，来评估产品的抗静电能力。静电放电模拟通常包括人体放电模式和设备放电模式，以...

2025-03-18

在半导体产业蓬勃发展的今天，静电放电（ESD）对半导体器件的潜在威胁不容忽视。ku游电子娱乐平台 作为检测和评估ESD防护能力的关键设备，正发挥着至关重要的作用。半导体制造过程非常复杂且精细，从晶圆制造到芯片封装，每一步都可能受到ESD的影响。ESD产生的瞬间高压和大电流，可能会击穿半导体器件内部的微小结构，导致器件性能下降甚至失效。据统计，因ESD造成的半导体产品损失占总损失的相当比例，因此精确检测和控制ESD至关重要。ku游电子娱乐平台 能够在晶圆阶段对ESD防护结构进行全面...

2025-01-17

随着半导体技术的不断进步，尤其是集成电路(IC)的复杂度不断提高，器件的可靠性和性能测试变得愈加重要。ES622系列TLP脉冲IV曲线系统成为一种关键的测试工具，用于评估半导体器件在瞬态电流脉冲作用下的响应。本文将介绍TLP脉冲IV曲线系统在半导体器件中的应用，以及其在器件可靠性评估中的重要作用。TLP脉冲IV测试原理TLP脉冲IV曲线系统通过施加瞬态电流脉冲（通常是短时间的高电流脉冲）来模拟器件在实际工作环境中可能遇到的极端情况。该系统测量半导体器件在受到脉冲电流作用时的电...

2024-12-18

在集成电路(IC)和其他微电子器件制造过程中，静电放电(ESD)是导致产品缺陷和失效的一个主要因素。因此，利用专业的芯片静电测试设备来检测和验证IC对静电的承受能力变得至关重要。这类设备不仅能帮助工程师们识别薄弱环节，还能促进产品设计和工艺的不断改进，以提升整体可靠性。静电测试的目的1.质量控制：确保每一批次产品的静电防护达到预定标准。2.故障分析：确定ESD事件对芯片的影响，追踪根本原因。3.合规性验证：满足国内外相关标准的要求，如IEC61000-4-2（人体模型）和MI...

2024-11-20

高压脉冲发生器的主要应用：搭配二极管和电容注入探头进行ESD电流注入搭配场探头或TEMCell进行E＆H场注入用于晶圆，PCB，系统级ESD调试（TLP通用方法）触摸屏的ITO熔断和故障测试充电恢复时间测试元件的ESD脉冲可靠性测试工作原理：1、高压直流电源高压直流电源的作用是将从电网输入的交流电整流再逆变成高压交流电，然后经过整流变成高压直流电。其主要由整流、功率因数校正、逆变、变压器升压和倍压整流组成。2、高压脉冲波形研究设计的高压脉冲发生器产生的脉冲波形主要有方波、指数...

2024-11-08